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泛華測控攜手NI,舉辦數(shù)據采集知識巡回研討會

作者:國際電子商情
來源:來源網絡(侵權刪)
日期:2008-08-25 08:47:52
摘要:由北京中科泛華測控技術有限公司DAQ事業(yè)部攜手美國國家儀器中國有限公司(NI)共同舉辦的 “快速構建高效完整的數(shù)據采集系統(tǒng)”全國巡回研討會將陸續(xù)在上海、武漢、沈陽、哈爾濱、青島等全國十六個城市展開。
  由北京中科泛華測控技術有限公司DAQ事業(yè)部攜手美國國家儀器中國有限公司(NI)共同舉辦的 “快速構建高效完整的數(shù)據采集系統(tǒng)”全國巡回研討會將陸續(xù)在上海、武漢、沈陽、哈爾濱、青島等全國十六個城市展開。 

  此次巡回研討會主要圍繞數(shù)據采集基礎知識、產品選型知識以及LabVIEW、Measurement Studio等開發(fā)軟件使用技巧等內容進行,為廣大測試測量工程師提供數(shù)據采集產品的選型指導以及技術咨詢。泛華工程師結合多年來的實際案例及目前實際產業(yè)需求,通過現(xiàn)場演示和實際操作,幫助客戶快速構建高效完整的數(shù)據采集系統(tǒng);同時,此次研討會也為廣大測試測量工程師提供了一個數(shù)據采集解決方案交流平臺。