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“國(guó)立故宮博物院”文物底片 RFID 辨識(shí)概念性驗(yàn)證
作者:李明興
來(lái)源:臺(tái)灣“經(jīng)濟(jì)部”RFID公領(lǐng)域應(yīng)用推動(dòng)辦公室
日期:2009-12-02 09:01:50
摘要:國(guó)立故宮博物院所典藏的底片約有10萬(wàn)片,且每年約有2,000張的新增底片,經(jīng)常因?qū)W術(shù)研究、月刊、底片授權(quán)使用等目的,底片進(jìn)出頻率甚為頻繁。而過(guò)去大多以人力手動(dòng)輸入之方式進(jìn)行借出去、查詢(xún)及盤(pán)點(diǎn),較為耗時(shí)及作業(yè)成本,且因底片本身皆放置于一底片外袋中,于大量的借出入時(shí)會(huì)發(fā)生底片錯(cuò)置外袋的可能,加上若可以一次大量辨識(shí)底片則可以改善現(xiàn)有的盤(pán)點(diǎn)模式,將可以達(dá)到正確快速的盤(pán)點(diǎn)目標(biāo)。
“國(guó)立故宮博物院”所典藏的底片約有10萬(wàn)片,且每年約有2,000張的新增底片,經(jīng)常因?qū)W術(shù)研究、月刊、底片授權(quán)使用等目的,底片進(jìn)出頻率甚為頻繁。而過(guò)去大多以人力手動(dòng)輸入之方式進(jìn)行借出去、查詢(xún)及盤(pán)點(diǎn),較為耗時(shí)及作業(yè)成本,且因底片本身皆放置于一底片外袋中,于大量的借出入時(shí)會(huì)發(fā)生底片錯(cuò)置外袋的可能,加上若可以一次大量辨識(shí)底片則可以改善現(xiàn)有的盤(pán)點(diǎn)模式,將可以達(dá)到正確快速的盤(pán)點(diǎn)目標(biāo)。
在本次概念性驗(yàn)證的技術(shù)需求上,仍需維持現(xiàn)有作業(yè)之一次大量借出入,所以,RFID應(yīng)用要輔助作業(yè)人員可以利用讀取器直接辨識(shí)底片本身之電子標(biāo)簽而及外袋。驗(yàn)證上的重點(diǎn)則在找出可以直接貼附于底片的電子標(biāo)簽,此外,標(biāo)簽背面的接著劑需為無(wú)酸膠以避免毀壞底片,此外,因?yàn)楣蕦m存放底片的方式都非常的緊密,思考如何達(dá)成快速盤(pán)點(diǎn)目的,則電子標(biāo)簽須可以達(dá)到堆疊讀取之效能。
概念性驗(yàn)證內(nèi)容
本次概念性驗(yàn)證內(nèi)容分為三個(gè)階段包含:基本性能測(cè)試、實(shí)驗(yàn)室模擬測(cè)試及實(shí)際導(dǎo)入測(cè)試。其包含讀取距離、外袋材質(zhì)讀取效能、堆疊方式及讀取效能、底片貼附標(biāo)簽進(jìn)行掃描測(cè)試。
(一) 貼附底片電子標(biāo)簽選用
一如前述,找出可以直接貼附于底片的電子標(biāo)簽是本次驗(yàn)證重點(diǎn)之一。
本次驗(yàn)證根據(jù)廠(chǎng)商提供之電子標(biāo)簽進(jìn)行測(cè)試,一共有三個(gè)頻段分別是HF、UHF及2.45GHz,但因底片邊緣可進(jìn)行RFID貼附之空間有限,現(xiàn)有HF、UHF標(biāo)簽過(guò)大,不符條件。本驗(yàn)證所得選用日晶科技所提供的2.45G Mu chip,其標(biāo)簽大小為長(zhǎng)*寬為5.1mm * 1.5mm,如圖1所示。另一方面無(wú)酸接著劑的部份,于本次驗(yàn)證亦有負(fù)責(zé)化學(xué)材料的亞洲日信針對(duì)該電子標(biāo)簽進(jìn)行無(wú)酸膠的開(kāi)發(fā),因ISO國(guó)際規(guī)定的無(wú)酸紙PH值介于7-9之間,而本次概念性測(cè)試的PH值介于7-8.5,符合于ISO標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)。
然而,在底片外袋上則較無(wú)尺寸的限制。惟,考量成本與市面既有設(shè)備下,本次盤(pán)點(diǎn)應(yīng)用使用UHF及HF兩種頻段進(jìn)行應(yīng)用測(cè)試時(shí),測(cè)試的三種不同的堆疊方式,其示意如下圖所示:
于“國(guó)立故宮博物院”底片庫(kù)進(jìn)行的驗(yàn)測(cè)流程及情境為圖6所示,包含為新增底片、儲(chǔ)存、底片借出及歸還和盤(pán)點(diǎn)作業(yè),一次大量借出入的作業(yè)考量是驗(yàn)測(cè)流程設(shè)計(jì)的重點(diǎn)。
新增底片作業(yè)測(cè)試系統(tǒng)畫(huà)面如圖7所示,主要于底片、外袋及該文物底片資料進(jìn)行資料之連結(jié),于該筆資料之登錄號(hào)查詢(xún)出資料后,進(jìn)行底片及外袋RFID電子標(biāo)簽ID的讀取后進(jìn)行資料連結(jié)即可。
底片借出入作業(yè)須確定底片本身及外袋ID,并輸入借用人申請(qǐng)資料,如圖8中所示,讀取底片本身ID無(wú)須抽出外袋,再于下個(gè)步驟讀取保存外袋的電子標(biāo)簽ID,以確定兩者沒(méi)有錯(cuò)置,并于歸還時(shí)一樣進(jìn)行讀取底片和外袋的ID后系統(tǒng)可以直接帶出該借用申請(qǐng)資料,若是讀取底片ID和保存外袋是錯(cuò)置而非當(dāng)然借出的ID,則歸還時(shí)系統(tǒng)不會(huì)帶出借用申請(qǐng)資料。
基于本來(lái)底片庫(kù)所使用的底片儲(chǔ)存方式于金屬材質(zhì)內(nèi),若是使用手持式讀取設(shè)備直接讀取柜內(nèi)的底片較為困難,且讀取效果不佳。
未來(lái)相關(guān)應(yīng)用建議
于本次驗(yàn)證的觀察若標(biāo)簽為密集讀取時(shí),若需使用UHF后建議標(biāo)簽于貼附于標(biāo)的物時(shí),采交錯(cuò)貼附之方式,減少金屬材質(zhì)對(duì)于標(biāo)簽讀取上的影響,而此次采用HF設(shè)備符合ISO 18000-3 Mode 2標(biāo)準(zhǔn),于標(biāo)簽密集堆疊能有效讀取,該標(biāo)準(zhǔn)能滿(mǎn)足密集堆疊之?dāng)?shù)量盤(pán)點(diǎn)的應(yīng)用所需。而于導(dǎo)入的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試階段,于查詢(xún)、于查詢(xún)、借出及歸還時(shí),系統(tǒng)畫(huà)面可帶出該底片之圖檔,以便底片進(jìn)出庫(kù)房時(shí)可以再次確認(rèn)底片及系統(tǒng)上顯示的圖片是否相同,并于盤(pán)點(diǎn)時(shí)的畫(huà)面除了可以顯示欲盤(pán)點(diǎn)的底片外,亦可以顯示出錯(cuò)置的底片相關(guān)訊息。
(文/經(jīng)濟(jì)部RFID公領(lǐng)域應(yīng)用推動(dòng)辦公室.李明興專(zhuān)案經(jīng)理)
在本次概念性驗(yàn)證的技術(shù)需求上,仍需維持現(xiàn)有作業(yè)之一次大量借出入,所以,RFID應(yīng)用要輔助作業(yè)人員可以利用讀取器直接辨識(shí)底片本身之電子標(biāo)簽而及外袋。驗(yàn)證上的重點(diǎn)則在找出可以直接貼附于底片的電子標(biāo)簽,此外,標(biāo)簽背面的接著劑需為無(wú)酸膠以避免毀壞底片,此外,因?yàn)楣蕦m存放底片的方式都非常的緊密,思考如何達(dá)成快速盤(pán)點(diǎn)目的,則電子標(biāo)簽須可以達(dá)到堆疊讀取之效能。
概念性驗(yàn)證內(nèi)容
本次概念性驗(yàn)證內(nèi)容分為三個(gè)階段包含:基本性能測(cè)試、實(shí)驗(yàn)室模擬測(cè)試及實(shí)際導(dǎo)入測(cè)試。其包含讀取距離、外袋材質(zhì)讀取效能、堆疊方式及讀取效能、底片貼附標(biāo)簽進(jìn)行掃描測(cè)試。
(一) 貼附底片電子標(biāo)簽選用
一如前述,找出可以直接貼附于底片的電子標(biāo)簽是本次驗(yàn)證重點(diǎn)之一。
本次驗(yàn)證根據(jù)廠(chǎng)商提供之電子標(biāo)簽進(jìn)行測(cè)試,一共有三個(gè)頻段分別是HF、UHF及2.45GHz,但因底片邊緣可進(jìn)行RFID貼附之空間有限,現(xiàn)有HF、UHF標(biāo)簽過(guò)大,不符條件。本驗(yàn)證所得選用日晶科技所提供的2.45G Mu chip,其標(biāo)簽大小為長(zhǎng)*寬為5.1mm * 1.5mm,如圖1所示。另一方面無(wú)酸接著劑的部份,于本次驗(yàn)證亦有負(fù)責(zé)化學(xué)材料的亞洲日信針對(duì)該電子標(biāo)簽進(jìn)行無(wú)酸膠的開(kāi)發(fā),因ISO國(guó)際規(guī)定的無(wú)酸紙PH值介于7-9之間,而本次概念性測(cè)試的PH值介于7-8.5,符合于ISO標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)。
圖1、本驗(yàn)證所用2.45G Mu chip

圖2、本驗(yàn)證于裕華彩藝印刷廠(chǎng)進(jìn)行實(shí)地測(cè)試

圖3、本驗(yàn)證測(cè)試電子標(biāo)簽貼附位置
然而,在底片外袋上則較無(wú)尺寸的限制。惟,考量成本與市面既有設(shè)備下,本次盤(pán)點(diǎn)應(yīng)用使用UHF及HF兩種頻段進(jìn)行應(yīng)用測(cè)試時(shí),測(cè)試的三種不同的堆疊方式,其示意如下圖所示:

圖4、底片盤(pán)點(diǎn)應(yīng)用測(cè)試三種不同的堆疊方式

圖5、可進(jìn)行堆疊讀取的堆疊方式
于“國(guó)立故宮博物院”底片庫(kù)進(jìn)行的驗(yàn)測(cè)流程及情境為圖6所示,包含為新增底片、儲(chǔ)存、底片借出及歸還和盤(pán)點(diǎn)作業(yè),一次大量借出入的作業(yè)考量是驗(yàn)測(cè)流程設(shè)計(jì)的重點(diǎn)。

圖6、驗(yàn)測(cè)流程及情境
新增底片作業(yè)測(cè)試系統(tǒng)畫(huà)面如圖7所示,主要于底片、外袋及該文物底片資料進(jìn)行資料之連結(jié),于該筆資料之登錄號(hào)查詢(xún)出資料后,進(jìn)行底片及外袋RFID電子標(biāo)簽ID的讀取后進(jìn)行資料連結(jié)即可。

圖7、新增底片作業(yè)測(cè)試系統(tǒng)畫(huà)面
底片借出入作業(yè)須確定底片本身及外袋ID,并輸入借用人申請(qǐng)資料,如圖8中所示,讀取底片本身ID無(wú)須抽出外袋,再于下個(gè)步驟讀取保存外袋的電子標(biāo)簽ID,以確定兩者沒(méi)有錯(cuò)置,并于歸還時(shí)一樣進(jìn)行讀取底片和外袋的ID后系統(tǒng)可以直接帶出該借用申請(qǐng)資料,若是讀取底片ID和保存外袋是錯(cuò)置而非當(dāng)然借出的ID,則歸還時(shí)系統(tǒng)不會(huì)帶出借用申請(qǐng)資料。

圖8、底片借出入作業(yè)測(cè)試系統(tǒng)畫(huà)面
基于本來(lái)底片庫(kù)所使用的底片儲(chǔ)存方式于金屬材質(zhì)內(nèi),若是使用手持式讀取設(shè)備直接讀取柜內(nèi)的底片較為困難,且讀取效果不佳。

圖9、直接讀取柜內(nèi)的底片較為困難 圖10、將底片置于容器內(nèi)再行讀取

圖11、于查詢(xún)、于查詢(xún)、借出及歸還時(shí)系統(tǒng)可帶出該底片之圖檔
未來(lái)相關(guān)應(yīng)用建議
于本次驗(yàn)證的觀察若標(biāo)簽為密集讀取時(shí),若需使用UHF后建議標(biāo)簽于貼附于標(biāo)的物時(shí),采交錯(cuò)貼附之方式,減少金屬材質(zhì)對(duì)于標(biāo)簽讀取上的影響,而此次采用HF設(shè)備符合ISO 18000-3 Mode 2標(biāo)準(zhǔn),于標(biāo)簽密集堆疊能有效讀取,該標(biāo)準(zhǔn)能滿(mǎn)足密集堆疊之?dāng)?shù)量盤(pán)點(diǎn)的應(yīng)用所需。而于導(dǎo)入的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試階段,于查詢(xún)、于查詢(xún)、借出及歸還時(shí),系統(tǒng)畫(huà)面可帶出該底片之圖檔,以便底片進(jìn)出庫(kù)房時(shí)可以再次確認(rèn)底片及系統(tǒng)上顯示的圖片是否相同,并于盤(pán)點(diǎn)時(shí)的畫(huà)面除了可以顯示欲盤(pán)點(diǎn)的底片外,亦可以顯示出錯(cuò)置的底片相關(guān)訊息。
(文/經(jīng)濟(jì)部RFID公領(lǐng)域應(yīng)用推動(dòng)辦公室.李明興專(zhuān)案經(jīng)理)