提出了一種采用覆蓋率驅(qū)動(dòng)激勵(lì)產(chǎn)生算法的驗(yàn)證技術(shù)，設(shè)計(jì)了一套完整的驗(yàn)證平臺(tái)，成功地驗(yàn)證了一款高頻RFID(射頻識(shí)別技術(shù))芯片。該技術(shù)的核心思想是在驗(yàn)證過程中，通過分析功能覆蓋率和代碼覆蓋率，得出未覆蓋的邊界條件，進(jìn)而修改激勵(lì)產(chǎn)生的約束條件，產(chǎn)生測(cè)試激勵(lì)，驗(yàn)證邊界條件，以有效地提高驗(yàn)證覆蓋率。現(xiàn)該驗(yàn)證平臺(tái)所驗(yàn)證的芯片已經(jīng)成功流片，且測(cè)試性能優(yōu)異。
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