RFID詢(xún)問(wèn)范圍技術(shù)知識(shí) - RFID技術(shù)文庫(kù)

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RFID詢(xún)問(wèn)范圍

[RFID標(biāo)簽] [其他] 本振相位噪聲對(duì)RFID詢(xún)問(wèn)范圍的影響分析(二)

無(wú)源UHF RFID系統(tǒng)中使用的本地振蕩器的相位噪聲被證實(shí)是影響該系統(tǒng)最終詢(xún)問(wèn)范圍的關(guān)鍵限制因素。RFID閱讀機(jī)的發(fā)射功率是決定FIR的主要因素，而閱讀機(jī)天線增益、本振相位噪聲和Tx/Rx隔離度是決定RIR的主要因素。本文將探討本振相位噪聲對(duì)RFID詢(xún)問(wèn)范圍的影響。
[RFID標(biāo)簽] [其他] 本振相位噪聲對(duì)RFID詢(xún)問(wèn)范圍的影響分析(一)

無(wú)源UHF RFID系統(tǒng)中使用的本地振蕩器的相位噪聲被證實(shí)是影響該系統(tǒng)最終詢(xún)問(wèn)范圍的關(guān)鍵限制因素。RFID閱讀機(jī)的發(fā)射功率是決定FIR的主要因素，而閱讀機(jī)天線增益、本振相位噪聲和Tx/Rx隔離度是決定RIR的主要因素。本文將探討本振相位噪聲對(duì)RFID詢(xún)問(wèn)范圍的影響。