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新研發(fā)的Testbed設(shè)備承諾加快射頻標(biāo)簽發(fā)展

Georgia技術(shù)研究協(xié)會的研究人員已經(jīng)設(shè)計研發(fā)出一款新的系統(tǒng)，來幫助射頻硬件制造商檢測成百上千個標(biāo)簽的性能，并能使其更快測試出新射頻標(biāo)簽的型號，這樣一來大可不必為每一次試驗都制造新的標(biāo)簽了。

06/17
新研究發(fā)明了更經(jīng)濟的RFID 標(biāo)簽開發(fā)方式

佐治亞技術(shù)機構(gòu)研究人員宣布他們開發(fā)出 RFID testbed，與目前的標(biāo)簽設(shè)計過程的對比，這臺設(shè)備可以更經(jīng)濟、有效地測試新標(biāo)簽?zāi)Ｐ汀?#xD;

05/15